• รูทะลุ (TH) หรือตัวยึดพื้นผิว (SMD)
• 50 มิลลิแอมป์ / 24 โวลต์
• ขั้วเดี่ยว/ชั่วขณะ
• อายุการใช้งาน 10,000,000 ครั้ง
• ช่วงอุณหภูมิ: -40/+160 °C
• การปิดผนึก IP67
• แรงกระตุ้น: 3.5 N

วัสดุ
• ตัวเรือน: PPS UL94V0
• แอคชูเอเตอร์: PPS UL94V0
• ซีล + สปริง: ยางซิลิโคน
• สปริงติดต่อ:
- เงิน: สแตนเลส (+ 3μAg)
- ทอง: สแตนเลส (+ 1μAu)
• ผู้ติดต่อคงที่:
- เงิน - SnCu + 2μNI + 3μAg
- ทอง - SnCu + 2μNI + 1μAu
• ขั้ว: SnCu + 2μNI + 3μSn100

• ความต้านทานการติดต่อ: 10 M Ω
• โหลดที่แนะนำ:
- เงิน: 0.5 - 50 mA 24 Vdc
- ทอง: 0.5μ - 50 mA 24 Vdc
• ติดต่อตีกลับ: <2 mS - โดยทั่วไป 0.5 mS

• อุณหภูมิในการทำงาน: -40/+160 °C
• อุณหภูมิในการจัดเก็บ: -40/+160 °C
• การบัดกรี (TH): IEC 68-2-20
• การบัดกรี (SMD): JEDEC J-STD-020C
• ความทนทานต่อสิ่งแวดล้อม IEC 68-2-3
• อุณหภูมิ: +40 °C
• ความชื้น: 93% RH
• ระยะเวลา: 56 วัน
• รอบอุณหภูมิ IEC 68-2-14
• จำกัดอุณหภูมิ: -55/+85 °C
• จำนวนรอบ: 200
• เวลาเปิดรับแสงในแต่ละอุณหภูมิ: 10 นาที
• เวลาพักฟื้นก่อนการวัด: 16 ชม.
• ซีล IEC 529: IP-67

• แรงกระตุ้นมาตรฐาน: ประเภท 3.5 N
• สูงสุด แรงกระตุ้น: 100 N เป็นเวลา 10 วินาที
• การเดินทางที่สำคัญ: 1 mm
• อายุการใช้งาน: >10,000,000